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- La microscopie à conductance ionique (Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM), en anglais) est une technologie de microscopie à sonde locale développée par Paul Hansma et al. en 1989. Il s'agit d'une technique permettant de déterminer la topographie d'un échantillon en milieu aqueux contenant des électrolytes, à une résolution micro- voire nanométrique. La SICM permet de caractériser des échantillons de matériaux non conducteurs pouvant être souples, un des intérêts principaux de cette mesure étant que la sonde n'entre pas directement en contact avec l'échantillon, ce qui permet de ne pas le détruire ni de déformer la surface. Cela rend possible l'observation de tissus biologiques et de cellules vivantes. Cette technique est capable de reproduire fidèlement des profils ayant des reliefs ou des crevasses abruptes, et a aussi été utilisée pour étudier la mobilité de cellules vivantes pendant leur migration. (fr)
- La microscopie à conductance ionique (Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM), en anglais) est une technologie de microscopie à sonde locale développée par Paul Hansma et al. en 1989. Il s'agit d'une technique permettant de déterminer la topographie d'un échantillon en milieu aqueux contenant des électrolytes, à une résolution micro- voire nanométrique. La SICM permet de caractériser des échantillons de matériaux non conducteurs pouvant être souples, un des intérêts principaux de cette mesure étant que la sonde n'entre pas directement en contact avec l'échantillon, ce qui permet de ne pas le détruire ni de déformer la surface. Cela rend possible l'observation de tissus biologiques et de cellules vivantes. Cette technique est capable de reproduire fidèlement des profils ayant des reliefs ou des crevasses abruptes, et a aussi été utilisée pour étudier la mobilité de cellules vivantes pendant leur migration. (fr)
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- La microscopie à conductance ionique (Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM), en anglais) est une technologie de microscopie à sonde locale développée par Paul Hansma et al. en 1989. Il s'agit d'une technique permettant de déterminer la topographie d'un échantillon en milieu aqueux contenant des électrolytes, à une résolution micro- voire nanométrique. (fr)
- La microscopie à conductance ionique (Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM), en anglais) est une technologie de microscopie à sonde locale développée par Paul Hansma et al. en 1989. Il s'agit d'une technique permettant de déterminer la topographie d'un échantillon en milieu aqueux contenant des électrolytes, à une résolution micro- voire nanométrique. (fr)
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- Microscopie à conductance ionique (fr)
- Scanning ion-conductance microscopy (en)
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