[go: up one dir, main page]

About: Burst noise

An Entity of Type: Band, from Named Graph: http://dbpedia.org, within Data Space: dbpedia.org

Burst noise is a type of electronic noise that occurs in semiconductors and ultra-thin gate oxide films. It is also called random telegraph noise (RTN), popcorn noise, impulse noise, bi-stable noise, or random telegraph signal (RTS) noise. It consists of sudden step-like transitions between two or more discrete voltage or current levels, as high as several hundred microvolts, at random and unpredictable times. Each shift in offset voltage or current often lasts from several milliseconds to seconds, and sounds like popcorn popping if hooked up to an audio speaker.

Property Value
dbo:abstract
  • Burst noise هو نوع من الضوضاء الإلكترونية التي تحدث في أشباه الموصلات وغشاء الرقيق المؤكسد. وتسمى أيضًا ضوضاء التلغراف العشوائية ( RTN ) أو ضوضاء الفشار أو ضوضاء النبض أو ضوضاء ثنائية الاستقرار أو ضوضاء إشارة التلغراف العشوائية ( RTS ). milliseconds milliseconds milliseconds وهو يتألف من انتقالات مفاجئة تشبه الخطوة بين اثنين أو أكثر من مستويات الجهد أو التيار المنفصل، تصل إلى عدة مئات من microvolts ، في أوقات عشوائية وغير متوقعة. كل نوبة في جهد أو تيار الإزاحة تدوم غالبًا من عدة ميلي ثانية إلى ثوانٍ، وتبدو وكأنها طقطقة منشار الفشار إذا تم توصيلها بمكبر صوت. popcorn وقد لوحظت ضوضاء الفشار لأول مرة عند استخدام الصمام الثنائي، ومن ثم تم اكتشافها مجددا عند تسويق واحد من اوائل مضخمات اشباه الموصلات؛ 709. لا يوجد مصدر وحيد للضوضاء الفشار نظريًا لشرح تلك الأحداث، ولكن السبب الأكثر شيوعًا هو الاحتجاج العشوائي وإطلاق ناقلات الشحنة في واجهات الأغشية الرقيقة أو في مواقع الخلل في بلورات أشباه الموصلات. في هذه الحالات حيث يكون لها تاثير كبير على الأداء (مثل بوابة MOS أو في منطقة القطب) ،ا يامكن أبمكن ان يكون لها تاثير كبير على الإشارة الصادرة أأو ن تحدث هذه العيوب بسبب عمليات التصنيع، مثل زرع الأيونات الثقيلة، أو الآثار الجانبية غير المقصودة مثل تلوث السطح. (op-amps)mمن المستطاع ان يتم الكشف لكل عينة (op-amps) عن تلك الضوضاء باستخدام دوائر الكشف عن قمم الضوضاء، يتم ذلك الفحص لاستخدامات معينة يهم فيها تقليل الضوضاء. يتم صياغة ضوضاء الانفجار رياضياً عن طريق عملية التلغراف، وهي عملية مؤشر ستوكاستيك مستمرة في الوقت المستمر تقفز بشكل متقطع بين قيمتين متميزتين. * انتقال الإلكترون الذري * عملية التلغراف (ar)
  • Burst noise is a type of electronic noise that occurs in semiconductors and ultra-thin gate oxide films. It is also called random telegraph noise (RTN), popcorn noise, impulse noise, bi-stable noise, or random telegraph signal (RTS) noise. It consists of sudden step-like transitions between two or more discrete voltage or current levels, as high as several hundred microvolts, at random and unpredictable times. Each shift in offset voltage or current often lasts from several milliseconds to seconds, and sounds like popcorn popping if hooked up to an audio speaker. Popcorn noise was first observed in early point contact diodes, then re-discovered during the commercialization of one of the first semiconductor op-amps; the 709. No single source of popcorn noise is theorized to explain all occurrences, however the most commonly invoked cause is the random trapping and release of charge carriers at thin film interfaces or at defect sites in bulk semiconductor crystal. In cases where these charges have a significant impact on transistor performance (such as under an MOS gate or in a bipolar base region), the output signal can be substantial. These defects can be caused by manufacturing processes, such as heavy ion implantation, or by unintentional side-effects such as surface contamination. Individual op-amps can be screened for popcorn noise with peak detector circuits, to minimize the amount of noise in a specific application. Burst noise is modeled mathematically by means of the telegraph process, a Markovian continuous-time stochastic process that jumps discontinuously between two distinct values. (en)
  • Le bruit en créneaux est également nommé burst noise, en anglais. Il a été découvert et baptisé bruit en créneaux, par Georges Giralt, Jean-Claude Martin et Xavier Mateu-Pérez en 1965 sur des transistors plans au silicium, au Laboratoire de Génie Electrique de la Faculté des Sciences de Toulouse( France) .Il est caractérisé par des créneaux de courant (à tension de polarisation constante) dont l'amplitude est de l'ordre de trois à cinq fois l'amplitude du bruit thermique. On peut rencontrer sur certains transistors, des créneaux de deux niveaux. L'intervalle entre les créneaux peut varier entre quelques millisecondes et une centaine de millisecondes. Des études approfondies ont été poursuivies, entre 1966 et 1974, dans le cadre du Laboratoire d'Automatique et d'Analyse des Systèmes (LAAS) du CNRS, par Jean-Claude Martin et Gabriel Blasquez, qui ont relié l'origine de ce bruit à des phénomènes de génération-recombinaison sur des défauts à la surface du cristal semiconducteur . Le bruit en créneaux a été utilisé pour mesurer la fiabilité des transistors. Ce bruit a aussi été observé et analysé, au LAAS et à l'Université de Gainesville (Fla) sur des transistors CMOS et des transistors FET à l'arséniure de gallium. Bien plus tard il a été identifié lors du développement de l'un des premiers amplificateurs opérationnels : le 709. la raison était vraisemblablement que les transistors qui le constituaient étaient le siège de défauts de surface liés à la technologie et leurs petites dimensions, Le bruit en créneaux, dans un amplificateur audio, produit des « pops » qui lui ont valu le nom de bruit popcorn. L'apparition de ces « pops » est aléatoire : ils peuvent se manifester plusieurs fois par seconde puis disparaître pendant plusieurs minutes. La plus grande partie du spectre de ce bruit se situe dans le domaine des fréquences audibles (de quelques centaines de Hz à quelques dizaines de kHz). La densité spectrale de puissance est de la forme suivante : . Le coefficient est compris entre 0,5 et 2 . La fréquence de coupure fc et la constante K sont des caractéristiques du composant. (fr)
  • Viene definito rumore burst, o popcorn noise, l'effetto provocato da variazioni occasionali e momentanee dell'ordine dei microvolt, della corrente di polarizzazione di un amplificatore operazionale integrato. Questo rumore indesiderato è costituito da brevi impulsi, la cui frequenza risulta sempre inferiore ai 100 Hz. Questo tipo di rumore sembra originato dalle inevitabili, anche se minime, contaminazioni da parte di atomi di metalli pesanti, nella struttura cristallina del Die.Il popcorn noise può essere ridotto a livelli molto bassi, mediante particolari accorgimenti nella fase di lavorazione dei wafer. È stato rilevato per la prima volta nei diodi a punta di contatto, e successivamente nell'amplificatore operazionale con sigla 709, uno dei primi dispositivi integrati messi in commercio. (it)
  • バーストノイズは半導体や極薄ゲート酸化膜で生じる電子ノイズの一種。ポップコーンノイズ、インパルスノイズ、双安定ノイズ、ランダム・テレグラフ・ノイズ (RTS)とも呼ばれる。 このノイズは、2つ以上の離散的な電圧・電流レベル間に起きる階段状の遷移からなる。大きさは数百マイクロボルトくらいであり、ランダムで予測不可能な時間に突然起きる。オフセット電圧・電流のシフトは、数ミリ秒から数秒に及び、オーディオスピーカーに接続しているとポップコーンがはねるような音が聞こえる。 初期の点接触型ダイオードで最初に観測され、最初の半導体オペアンプの1つである709を商業化する段階で再発見された。全ての発生を説明することができるポップコーンノイズの単一源は理論化されていないが、最も一般的に起こる原因は、薄膜界面やバルク半導体結晶の欠陥サイトにおける電荷キャリアがランダムにトラップ及び放出することである。これらの電荷がトランジスタの性能 (MOSゲートの下やバイポーラベースの中の領域など) に大きな影響を与える場合、出力信号はかなりのものになりうる。これらの欠陥は重イオン注入などの製造プロセスや表面汚染などの意図しない副作用によって引き起こされる可能性がある。 個々のオペアンプはピーク検出回路を用いてポップコーンノイズを遮断し、特定のアプリケーションのノイズ量を最小限に抑えることができる。 (ja)
dbo:thumbnail
dbo:wikiPageExternalLink
dbo:wikiPageID
  • 1903997 (xsd:integer)
dbo:wikiPageLength
  • 3982 (xsd:nonNegativeInteger)
dbo:wikiPageRevisionID
  • 981516067 (xsd:integer)
dbo:wikiPageWikiLink
dbp:wikiPageUsesTemplate
dct:subject
gold:hypernym
rdf:type
rdfs:comment
  • バーストノイズは半導体や極薄ゲート酸化膜で生じる電子ノイズの一種。ポップコーンノイズ、インパルスノイズ、双安定ノイズ、ランダム・テレグラフ・ノイズ (RTS)とも呼ばれる。 このノイズは、2つ以上の離散的な電圧・電流レベル間に起きる階段状の遷移からなる。大きさは数百マイクロボルトくらいであり、ランダムで予測不可能な時間に突然起きる。オフセット電圧・電流のシフトは、数ミリ秒から数秒に及び、オーディオスピーカーに接続しているとポップコーンがはねるような音が聞こえる。 初期の点接触型ダイオードで最初に観測され、最初の半導体オペアンプの1つである709を商業化する段階で再発見された。全ての発生を説明することができるポップコーンノイズの単一源は理論化されていないが、最も一般的に起こる原因は、薄膜界面やバルク半導体結晶の欠陥サイトにおける電荷キャリアがランダムにトラップ及び放出することである。これらの電荷がトランジスタの性能 (MOSゲートの下やバイポーラベースの中の領域など) に大きな影響を与える場合、出力信号はかなりのものになりうる。これらの欠陥は重イオン注入などの製造プロセスや表面汚染などの意図しない副作用によって引き起こされる可能性がある。 個々のオペアンプはピーク検出回路を用いてポップコーンノイズを遮断し、特定のアプリケーションのノイズ量を最小限に抑えることができる。 (ja)
  • Burst noise هو نوع من الضوضاء الإلكترونية التي تحدث في أشباه الموصلات وغشاء الرقيق المؤكسد. وتسمى أيضًا ضوضاء التلغراف العشوائية ( RTN ) أو ضوضاء الفشار أو ضوضاء النبض أو ضوضاء ثنائية الاستقرار أو ضوضاء إشارة التلغراف العشوائية ( RTS ). milliseconds milliseconds milliseconds وهو يتألف من انتقالات مفاجئة تشبه الخطوة بين اثنين أو أكثر من مستويات الجهد أو التيار المنفصل، تصل إلى عدة مئات من microvolts ، في أوقات عشوائية وغير متوقعة. كل نوبة في جهد أو تيار الإزاحة تدوم غالبًا من عدة ميلي ثانية إلى ثوانٍ، وتبدو وكأنها طقطقة منشار الفشار إذا تم توصيلها بمكبر صوت. (ar)
  • Burst noise is a type of electronic noise that occurs in semiconductors and ultra-thin gate oxide films. It is also called random telegraph noise (RTN), popcorn noise, impulse noise, bi-stable noise, or random telegraph signal (RTS) noise. It consists of sudden step-like transitions between two or more discrete voltage or current levels, as high as several hundred microvolts, at random and unpredictable times. Each shift in offset voltage or current often lasts from several milliseconds to seconds, and sounds like popcorn popping if hooked up to an audio speaker. (en)
  • Le bruit en créneaux est également nommé burst noise, en anglais. Il a été découvert et baptisé bruit en créneaux, par Georges Giralt, Jean-Claude Martin et Xavier Mateu-Pérez en 1965 sur des transistors plans au silicium, au Laboratoire de Génie Electrique de la Faculté des Sciences de Toulouse( France) .Il est caractérisé par des créneaux de courant (à tension de polarisation constante) dont l'amplitude est de l'ordre de trois à cinq fois l'amplitude du bruit thermique. On peut rencontrer sur certains transistors, des créneaux de deux niveaux. L'intervalle entre les créneaux peut varier entre quelques millisecondes et une centaine de millisecondes. (fr)
  • Viene definito rumore burst, o popcorn noise, l'effetto provocato da variazioni occasionali e momentanee dell'ordine dei microvolt, della corrente di polarizzazione di un amplificatore operazionale integrato. Questo rumore indesiderato è costituito da brevi impulsi, la cui frequenza risulta sempre inferiore ai 100 Hz. Questo tipo di rumore sembra originato dalle inevitabili, anche se minime, contaminazioni da parte di atomi di metalli pesanti, nella struttura cristallina del Die.Il popcorn noise può essere ridotto a livelli molto bassi, mediante particolari accorgimenti nella fase di lavorazione dei wafer. È stato rilevato per la prima volta nei diodi a punta di contatto, e successivamente nell'amplificatore operazionale con sigla 709, uno dei primi dispositivi integrati messi in commercio (it)
rdfs:label
  • انفجار الضجيج (ar)
  • Burst noise (en)
  • Rumore burst (it)
  • Bruit en créneaux (fr)
  • バーストノイズ (ja)
owl:sameAs
prov:wasDerivedFrom
foaf:depiction
foaf:isPrimaryTopicOf
is dbo:wikiPageDisambiguates of
is dbo:wikiPageRedirects of
is dbo:wikiPageWikiLink of
is foaf:primaryTopic of
Powered by OpenLink Virtuoso    This material is Open Knowledge     W3C Semantic Web Technology     This material is Open Knowledge    Valid XHTML + RDFa
This content was extracted from Wikipedia and is licensed under the Creative Commons Attribution-ShareAlike 3.0 Unported License