A Comprehensive Scan Test Cost Model to Optimize the Production of very large SoCs / Iaria, Giusy; Bernardi, Paolo; Bertani, Claudia; Cardone, Lorenzo; Garozzo, Giuseppe; Tancorre, Vincenzo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (In corso di stampa).
A Comprehensive Scan Test Cost Model to Optimize the Production of very large SoCs
Iaria, Giusy;Bernardi, Paolo;Cardone, Lorenzo;
In corso di stampa
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https://hdl.handle.net/11583/2995544