Titik uji

Artikel ini perlu diwikifikasi agar memenuhi standar kualitas Wikipedia. Anda dapat memberikan bantuan berupa penambahan pranala dalam, atau dengan merapikan tata letak dari artikel ini. Untuk keterangan lebih lanjut, klik [tampil] di bagian kanan. Mengganti markah HTML dengan markah wiki bila dimungkinkan. Tambahkan pranala wiki. Bila dirasa perlu, buatlah pautan ke artikel wiki lainnya dengan cara menambahkan "[[" dan "]]" pada kata yang bersangkutan (lihat WP:LINK untuk keterangan lebih lanjut). Mohon jangan memasang pranala pada kata yang sudah diketahui secara umum oleh para pembaca, seperti profesi, istilah geografi umum, dan perkakas sehari-hari. Sunting bagian pembuka. Buat atau kembangkan bagian pembuka dari artikel ini. Susun header artikel ini sesuai dengan pedoman tata letak. Tambahkan kotak info bila jenis artikel memungkinkan. Hapus tag/templat ini.

Titik uji (test point) adalah lokasi di dalam rangkaian elektronik yang digunakan untuk memantau keadaan sirkuit atau untuk menyuntikkan sinyal uji. Titik uji memiliki dua kegunaan utama:

• Selama manufaktur mereka digunakan untuk memverifikasi bahwa perangkat yang baru dirakit bekerja dengan benar. Setiap peralatan yang gagal dalam pengujian ini akan dibuang atau dikirim ke stasiun pengerjaan ulang untuk mencoba memperbaiki cacat produksi.
• Setelah perangkat dijual ke pelanggan, titik uji dapat digunakan di lain waktu untuk memperbaiki perangkat jika tidak berfungsi, atau jika perangkat perlu dikalibrasi ulang setelah komponen diganti.

Elektronik pemasangan permukaan miniatur modern seringkali hanya memiliki deretan bantalan solder kaleng yang tidak berlabel. Perangkat ditempatkan ke dalam perlengkapan uji yang menahan perangkat dengan aman, dan pelat konektor kontak permukaan khusus ditekan ke bantalan solder untuk menghubungkan semuanya sebagai satu kelompok.

Dalam dunia ponsel atau handphone test poin memiliki pengertian dasar yang hampir sama pada modul elektronika, tetapi dalam dunia teknisi ponsel lebih familiar pengertian test point itu ada 2 jenis, yaitu Hard Test Point dan Soft Test Point.^[1]

Hard Test Point adalah test yang dilakukan dengan cara penekanan hardware / jalur tertentu, bisa dengan membuat jumper point maupun dengan memotong jalur pada point tertentu, tujuan utamanya adalah melewati proteksi bootcore.^[1]

Soft Test Point adalah melakukan tes dengan menggunakan algoritma yang tertanam dalam sebuah program yang fungsinya mengunci akses perubahan bootcore atau checksum loader IC Flash atau EPROM, test poin ini memiliki tujuan yang sama dengan hard test point, tetapi biasanya digunakan pada ic bga / microchip yang kaki ic / bga ballnya di tutup dengan lem pelindung, sehingga tidak memungkinkan untuk melakukan hard test point.^[1]

1. ^ ^{a b c} Haikal, Mustofa (2020). "Apa Itu Test Point ? Lalu Apa Fungsinya". Diakses tanggal 29 Oktober 2022.